英國(guó)易高針孔和孔隙檢測(cè)方法介紹

針孔和孔隙檢測(cè)

基體的過(guò)早腐蝕通常是由涂層被破壞所 造成的。引起涂層破壞的一個(gè)主要原因 是已覆蓋的涂層存在一些缺陷。其中一 個(gè)主要的缺陷類型是涂層孔隙，如下所 列： 流走和流掛：濕涂層在重力作用下流動(dòng) ，留下薄層干膜。 疵點(diǎn)：涂層不會(huì)重新流動(dòng)而覆蓋氣泡從 涂層表面逸出時(shí)所留下的空隙。 縮孔：基體潮濕或涂層流動(dòng)性差而產(chǎn)生 的空隙。 針孔：空氣逸出表面或本該清除的殘留 微粒（如灰塵、沙粒等）造成。 涂層過(guò)厚：當(dāng)基體上涂有過(guò)多涂層時(shí)， 涂層干燥后由于涂層內(nèi)力作用會(huì)使涂層 產(chǎn)生裂紋。 涂層不足：沒(méi)有涂上涂層的地方或涂層 從特殊邊緣、基體角落及焊縫流走。甚 至， 在粗糙的表面上，涂層不足會(huì)造成表面 波峰暴露。 所以要考慮到維修成本及相應(yīng)的生產(chǎn)損 失。對(duì)涂層的早期檢測(cè)可以防止涂層破 壞而引起的不便及昂貴的修理費(fèi)用。用 于檢測(cè)涂層缺陷的儀器可參照許多不同 的稱謂，包括電火花或JEEP檢測(cè)儀、孔 隙或空隙探測(cè)器和針孔檢測(cè)器。 

有兩種檢測(cè)方法：

濕海綿測(cè)試技術(shù) ：

適合探測(cè)導(dǎo)電基體上500µm（20mils）以 內(nèi)的絕緣涂層內(nèi)的針孔。濕海綿測(cè)試技 術(shù)，適用于粉末涂層和較薄涂層的檢測(cè) 。 用濕潤(rùn)劑潤(rùn)濕海綿，加上低電壓，海綿 在涂層上移動(dòng)，遇到缺陷時(shí)，液體會(huì)滲 入基體，形成一個(gè)完整的電流回路，電 流通過(guò)檢測(cè)器會(huì)發(fā)出警報(bào)聲。 這種技術(shù)會(huì)識(shí)別基體未被覆蓋的各種涂 層缺陷，如疵點(diǎn)、縮孔、針孔、涂層過(guò) 厚、涂層不足等。 

高壓測(cè)試技術(shù)： 

查找出導(dǎo)電基體上絕緣涂層的所有缺陷 。高壓測(cè)試技術(shù)可用于測(cè)試厚度至7 mm（275mils）涂層缺陷。適用于檢測(cè)管 道和其它保護(hù)性涂層的缺陷。該方法也 同樣適用于混凝土涂層。 儀器產(chǎn)生直流高壓施加到合適的探頭上 ，基體接地，當(dāng)探頭通過(guò)涂層表面時(shí)， 缺陷點(diǎn)會(huì)以電火花顯示，儀器發(fā)出警報(bào) 聲。 該技術(shù)適用于確定上述所有缺陷，但是 在薄涂層一定要小心使用。（文章來(lái)自易高，侵刪）