CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀3D表面測量

• 更新時間：2021-04-13
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CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀3D表面測量
我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 一百萬高速相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量非常光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析

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CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀3D表面測量

無論測量的是何種元件，無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI MP-HS非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 一百萬高速相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量非常光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。CCI MP-HS很大地擴展了分析能力，同時又不至于讓分析程序變得更復雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面，不需要進行復雜的測量模式切換，也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。 通過標準化的方法、程序和報告，CCI MP-HS可輕松地整合到您的質(zhì)量管理系統(tǒng)中。正是與研究人員和科學家的密切配合，使得CCI MP-HS可隨時滿足各領(lǐng)域非常苛刻的測量要求。通過擴大可測量的元件范圍，良好的拼接技術(shù)大大增加的本產(chǎn)品的附加值。

儀器特點

。高速攝像頭, 掃描速度高達100微米/秒。 在高速測量時可減少丟失點、降低環(huán)境的影響， 保證測量結(jié)果的準確性。
。改進拼接功能， 在大面積拼接測量中顯著縮短測量時間。 無需增加額外費用， 就可檢測更多部件、檢測更完整和更詳細， 很大地提高成本效益。
。單一掃描模式， 全新的測量概念。 具有**的“相干相關(guān)”算法能夠在任意掃描范圍內(nèi)實現(xiàn)亞埃級分辨率， 處于任一生產(chǎn)階段的所有表面均可使用相同的測量技術(shù)在同一儀器上進行測量和比較。
。內(nèi)置平臺整合了ISO標準中對三維形貌定義的所有結(jié)果， 是一臺可用于標定的計量儀器。

節(jié)能減排：

。檢測速度的加快節(jié)約了測量時間， 提高了對設(shè)備和操作員的利用率。
。堅固耐用的設(shè)計節(jié)省了昂貴的維修費用。
。使作的簡便性可減少操作員的培訓成本。
 。主機耗電僅有250W， 在同類產(chǎn)品中耗電*低。

高速測量而無需妥協(xié)

       。掃描速度高達100微米/秒，而不會損失數(shù)據(jù)質(zhì)量
       。1024 x 1024像素陣列，具有高分辨率的大視野
       。2.2毫米垂直范圍，帶閉環(huán)無壓電Z軸掃描儀
       。AutoStitch作為標準配置，可在高分辨率下測量較大的像素
 

提高數(shù)據(jù)質(zhì)量

       。在整個測量范圍內(nèi)的分辨率為0.1埃
       。<0.2Åstrom RMS重復性，<0.1％臺階高度重復性
       。集成的防振功能，可實現(xiàn)*佳噪聲性能
       。新型Claritas 20照明系統(tǒng)，角度靈敏度更高，可提高數(shù)據(jù)質(zhì)量